元素分析
表面分析
太阳能/半导体
通用仪器耗材及检测服务
光学设计减少图形衬底对激光的干涉。
连续式四探针片电阻及光学膜厚测量设备设计, 片电阻不受针尖距离影响多种型号以供选择
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薄膜应力和硅片翘曲检测仪
连续式四探针片电阻及光学膜厚测量设备
