微区XRF在诸如月壤等珍贵地质样品的成分分析中，其强大的面扫描功能能够在无损、样品无制备的情况下，快速获得颗粒样品中各元素的分布情况并且能够给出准确可靠的定量、半定量结果， 为样品后续的分析奠定重要基础。
白光干涉仪的作用，可以进行膜厚测量，沟槽测量，翘曲分析，表面粗糙度测量，表面高度及盲孔测量，样品表面图案尺寸测量等。广泛应用于半导体，光学器件，太阳能电池，MEMS，生命科学，材料学等行业。
Conductive AFM (cAFM) — 导电原子力显微镜（CAFM）是一种源自接触AFM的二次成像模式，它表征了中到低导电和半导体材料的导电率变化。CAFM的电流范围为pA至μA。
Bruker M4 Tornado 微区X射线荧光光谱仪是样品成分分析、成分分布规律研究的新利器。
布鲁克元素分析产品选型指南
是利用物质在火花激发下，检测器通过检测不同元素的特征谱线，而进行元素的定性与定量分析的。
电话：86-021-37018108
传真：86-021-57656381
邮箱：info@boyuesh.com
地址：上海市松江区莘砖公路518号松江高科技园区28幢301室
