布鲁克手持光谱仪-手持式分析仪-X荧光光谱仪-铂悦仪器（上海）

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在线式X射线荧光分析仪 XMS
XMS是一款适用于工业自动化的在线式X射线荧光分析仪，具有快速数据采集和分析能力，能够帮助制造商优化工艺流程和提供产品质量。
手持式X荧光光谱仪
能够快速而准确的完成元素定性/定量分析，适用于多种环境，包括合金分析、PMI材质分析，矿石成分分析、土壤重金属检测、RoHS 2.0检测，镀层测厚、化肥和动物饲料成分分析、锂电池以及废旧金属回收等各行.....
科研手持XRF光谱仪TRACER 5g
TRACER 5g科研手持XRF光谱仪采用了一个带有1μm石墨烯窗口的新探测器，石墨烯窗口取代了传统的8μm铍窗口
微区X射线荧光光谱仪M4 TORNADO
微区X射线荧光光谱分析技术是对不均匀样品、不规则样品、甚至小件样品和包裹物进行高灵敏度的、非破坏性的元素分析方法。
TXRF全反射X射线荧光光谱仪S2 PICOFOX
TXRF全反射X射线荧光光谱仪可对固体、粉末、液体、悬浮物、过滤物、大气飘尘、薄膜样品等进行定性、定量分析，元素范围13Al-92U。
微区X射线荧光成像光谱仪PLUS
M4 TORNADO PLUS 微区X射线荧光成像光谱仪是能够检测出C（6）-Am（95）间元素的微区X射线荧光成像光谱仪。
便携台式xrf分析仪
便携式XRF分析仪适用于在实验室内外检测固体,粉末和液体.虽然手持式XRF轻便灵活,适合进行现场检测,但是,当需要对样品进行预备时;当样品为粉末,固体和液体等形态,存放在容器中时;当需要较长时间的检测.....

新品发布 - 布鲁克探针式轮廓仪/台阶仪 Dektak Pro
Dektak Pro是布鲁克新发布的一款的探针式轮廓仪/台阶仪，基于第十一代Dektak®系统，具有4 Å重复性的优异表现，并提供200毫米平台选项
布鲁克三维光学轮廓仪 ContourX-200
ContourX系列中的高效能白光干涉仪，配备自动XYZ样品台、查找表面功能、拼接及大范围成像功能。
布鲁克三维光学轮廓仪 ContourX-1000
布鲁克白光干涉仪，适用于研究和生产的自校准、具备全自动解决方案的三维光学轮廓系统
布鲁克探针式轮廓仪/台阶仪
能够实现严苛的纳米水平表面测量，提供更高的重复性和分辨率，不论是性能、易用性还是价格都更具有竞争力的探针式轮廓仪
布鲁克探针式轮廓仪系统 / 台阶仪系统 Dektak XTL
一款可容纳高达 350mm x 350mm 的样品，适用于大规格晶圆和面板制造领域、QC（质量控制）/QA（质量保证）的探针式轮廓仪系统
布鲁克原子力显微镜/AFM Dimension Icon
原子力显微镜Dimension Icon是一款性能卓越、具备智能成像模式 ( Scan Asyst) 和大样品台的原子力显微镜
光学轮廓仪ContourGT-X
布鲁克光学轮廓仪特性：业界标杆，大视场下高的垂直分辨率；从0.5x到200x不同放大倍率实现不同面型和织构表面的表征；硬件的优化设计进一步的仪器抗噪声能力、系统灵活性和测量稳定性

薄膜应力及基底翘曲测试设备
FSM128系列设备，装备有光学扫描系统。
薄膜应力及基底翘曲测试设备
FSM 500TC 200mm 高温应力测试系统可以帮助研发和工艺工程师评估薄膜的热力学性能和稳定性特性
布鲁克 Delta-X 多功能X射线衍射仪/反射仪 XRD
提供科研开发工作所需的各种X射线测试解决方案
布鲁克 JV-QC3 高分辨率X射线衍射仪 XRD
JV-QC3 高分辨率X射线衍射仪是布鲁克半导体部门新推出的专为化合物半导体产业所设计的半导体生产质量控制设备。
硅片表面形貌测量
硅片表面形貌测量,材料表面形貌分析
晶圆厚度测量系统
FSM413回波探头传感器使用红外（IR）干涉测量技术。

I-V 曲线测试仪
PV200为光伏系统提供了一个测试及诊断解决方案
电荷灵敏前置放大器
CUBE（立方）是一种以脉冲复位模式运行的单片电荷灵敏式前置放大器，借助外部电阻器，也可以以连续复位模式运行。
原子力显微镜探针/AFM探针
布鲁克AFM探针具有多种款式和型号，能够满足多种应用领域中的原子力显微镜（AFM）解决方案。
检测服务 - 介绍
承接成分分析、大面积元素分析成像、材料表面形貌分析等检测服务