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手持式XRF分析仪 S1 TITAN
       近年来,越来越多的制造商要求遵循一系列对于材料成分含量的准入限制条款,典型的如欧盟对有害物质 (RoHS-II),以及2008年美国CPSIA 对玩具中铅的最高含量限制,这些法规使得越来越多的生产商选择使用XRF 进行严格的质量控制。手持式XRF 已然成为业界广为接受的成品及原料筛选工具,其对于重金属和其它限制物质的检测颇为有效。
    美国消费产品安全委员会已认可手持式X射线荧光光谱仪为有效工具。S1 TITAN 600与800号可对无铅产品进行完全无损检测, 也可检测RoHS合规性,以及玩具和消费产品中的重金属。且对铅(Pb)、汞(H g)、铬(C r)、砷(A s)、锑(Sb)和钡(Ba)检测性能可达到ppm级别。
优点:
分析快速而准确
无损检测
现场测量
微区准直器
摄像头选配件
报告生成快速简单
安全加密数据储存
轻质,仅1.5公斤
防护台面支架


X-RAY镀层测厚仪M1 MISTRAL
测量RoHS指令元素
高性能的M1 MISTRAL也可以测量RoHS指令规定的轻基体中的痕量元素。直接控制电子电气产品中有害元素的浓度。
RoHS 检测要求

>Cr,Br,Pb,Hg的浓度必须<1,000ppm
>Cd 的浓度必须<100 ppm

测量镀层样品
    采用X射线荧光技术的M1 MISTRAL可以分析薄镀层样品,如印刷电路板、金属或塑料件,包括单层镀层和多层镀层。XSpect软件采用无标样基本参数法,可以同时计算镀层厚度和镀层组成。使用标准样品可以进一步提高定量分析的准确性。
可分析的多层镀膜样品可以测定镀层样品的镀层厚度及成分,例如:
>Zn-Fe
>Au-Ni-Cu
>Au-Pd-Ni-Cu
>CuSn-Ni-Cu
>Au-Pd-Ni-Cu

X-RAY镀层测厚仪 M2 BLIZZARD
    M2 BLIZZARD是布鲁克公司最新推出的一款微区X射线荧光光谱仪,依据ASTMB568和DIN/ISO 3497,对材料成分和多层涂层厚度进行无损分析。采用开槽设计,非常适用于扁平形状和尺寸过大的样品,例如大型印刷电路板。该仪器采用全新的、世界领先的XSpect Pro软件进行控制。
主要特性:
开槽构型,带可伸长的“超大尺寸”样品台
可以调节槽缝间隙(10或20毫米)
设有大型、耐用的样品托盘,用于样品定位
全新优化XSpect Pro操作软件
最先进的XData软件用于应用程序,标准样品与数据库管理
可自定义设置用户界面和测试结果界面
具备波谱自动保存功能,用于测量后结果的再处理以及存档
用户设定公差,可以方便地判定“合格/不合格”
“峰值查找器”,用于定性分析未知样品
软件含有测试报告模板以供客户编辑使用
配置工业强度的脚踏开关,用于“开始/停止”测量(可选项)
可完全设置SPC软件,配合客户工艺需求(可选项)
仪器设计简洁坚固,只需一条USB电缆与PC连接


高性能微区X射线荧光光谱仪M4 TORNADO-树立了微区x射线荧光光谱仪的典范
应用领域:
质量控制与故障分析
电子与电子部件的元素分布分析

> 镶嵌图像可显示PCB里面各个细小电子部件
>通过选择性目标量化实现超级分布图

RoHS 符合性
> 有害元素与限制性元素,如: Pb, Cd, Cr, Hg, Br,As, Sb, 等.
> 量化触点与焊接点的元素成分,如: Sn, Pb, Ag及 Cu, 等.
> 对IC芯片等单个电子部件进行无损元素分布检查.
>电子行业
> 研发部门
> FA, QA/QC 实验室
>教育研发机构
> 电子与电子工程学
> 材料科学
>独立科研实验室如 SGS, Intertek, 等等.
RoHS 检测
测量一个PCB样品。元素的面分布图显示了下列元素的分布情况:
Br(绿色)、Cu(红色)、Au(黄色)、Pb(白色)和Sn(粉红色)。
图像的原始大小:250x75像素测量时间:015s/像素。

光学轮廓仪
      Contour GT集合领先的64位,多核操作和分析软件,专利的白光干涉(WLI)硬件以及史无前例的简易操作性于一身,是目前最先进的三维光学轮廓仪。这款第十代的光学轮廓仪在大视场上提供快速。埃级到毫米级的垂直测量范围,并有灵活的样品设置和行业领先的重现性。Contour GT是现今生产、研究和质量控制领域中最具综合性及直观性的三维轮廓测量系统。


大工件-光学轮廓仪NPFLEX
      布鲁克的NPFlex 三维表面测量系统为大样品的表面表征测量提供了最灵活的非接触式的方案,可广泛用于医疗植入,航空航天、汽车或精密加工上的大型、异型工件的测量。基于白光干涉原理,NPFlex 为用户提供超过接触式方法所能达到的更大数据量、更高分辨率和更好的重复性,使它成为独立或者互补型的测量方案。
      开放式的龙门设计克服了以往某些零件由于角度或取向造成的测量困难,现在NPFlex可实现超过300度的测量空间。NPFlex的超级灵活性、数据准确性和测试效率为精密加工行业提供了一种简单的方法,来实现其更苛刻的加工要求、更高效的加工工艺和更好的终端产品。

原子力显微镜
      涵盖了聚合物材料表征,集成光路测量,材料力字性能表征,MEMS制造,细胞表面形态观察,生物大分子的结构及性质,数据存储,金属/合金/金属蒸镀的性质研究,食品、化字品、护肤品的加工/包装,液晶材料性能表征,分子器件,生物传感器,分子自组装结构,光盘存储,陶瓷工艺,薄膜性能表征,地质、能源、环境等领域的监测等各类科研和生产工作。

扫描电镜
      钨灯丝扫描电子显微镜是一款紧凑型钨灯丝扫描电子显微镜,用于各种材料的综合检查和高分辨质量控制,其具有超大的样品室、强大的轮式底盘和设计紧凑等特点,使其成为现场检查的移动实验室。采用众多自动化功能和自我诊断的直观触摸屏控制界面,即使对于没有经验的用户,也能保证得到高质量的结果。

SEM应用
⑴生物:种子、花粉、细菌
⑵医学:血球、病毒
⑶动物:大肠、绒毛、细胞、纤维
⑷材料:陶瓷、高分子、粉末、环氧树脂
⑸化学、物理、地质、冶金、矿物、污泥(杆菌) 、机械、电机及导电性样品,如半导体(IC、线宽量测、断面、结构观察)电子材料等。

电镜用EDS,WDS,EBSD.Micro-XRF及CT
      布鲁克公司提供范围多样的系统,适用于扫描和透射式电子显微镜的 X 射线能谱 (EDS)波谱(WDS)电子背散射衍射(EBSD),以及X射线微区荧光(Micro-XRF)和Micro-CT。QUANTAX EDS For SEM 是搭配在扫描电镜上的快速、多功能能谱系统。 QUANTAX EDS ForS/TEM 是搭配在透射或者扫描透射电镜上的高性能能谱仪,对电镜本身性能没有任何影响。
QUANTAX WDS是搭配在扫描电镜上的高精度波长色散X射线谱仪。
QUANTAX EBSD是搭配在扫描电镜上兼备高性能及易用性的背散射电子衍射系统。
QUANTAX Micro-XRF把完整的XRF系统整合到了扫描电镜上。
Micro-CT for SEM通过计算机三维重构X射线形貌图,展现样品内部结构


自动研磨抛光机全新精研一体机 Leica EM TXP
      徕卡EM TXP标靶面制备系统具有定点修块抛光功能,是用锯、磨、铣削、抛光样品后,供扫描电镜、透射电镜,和LM技术检测。
      带有一体化视镜,用于精确定位及对较细微难以观察的目标位置进行样品处理时观察;使用样品旋转手柄,可以改变样品观察角度,0°-60°可调,或者垂直于样品前表面90°观察,可利用目镜刻度标尺测量距离。
      为您带来的优势一体化自动程序控制一体化自动程序控制,包括自动左右制动机制,前进反馈力控制,倒计书功能等,为使用者节约大量时间。
适配工具多样性

      可适配多种多样工具,从而使样品不经转移就可以进行研磨,切割,钻孔,打磨及抛光。并且整个处理过程都可以通过体视镜进行观察监控,大大节省时间和费用。

表面光洁度和标靶检测

     表面处理与目标检测,都通过一体化体视镜来完成,用户不需要专程将样品拿出来再进行表面观察检测,这可大大提高使用者的工作效率。


电化学工作站
      Autolab系列电化学工作站素以模块化设计、皮实稳定、软件一流著称,标准配置的功能十分强大,能满足用户的绝大多数测试需要。在这个基础之上,用户还能够配置不同的模块和外部设备,以满足特殊的测试要求。
电化学工作站主要应用领域:
电分析;
腐蚀防护与控制
储能设备(燃料电池、电池、太阳能光伏电池、超级电容器等);
点催化、电镀、电解、电点溶解、点沉积、电合成;
涂层研究(有机涂层及无机涂层)、纳米科学、导电聚合物的膜科学、化学机械抛光、借点材料和半导体材料;生物传感器;
光谱电化学
相关行业:电池及电池材料工业、电镀工业、钢铁工业、航天工业、国防工业、汽车、石化、化学加工、包装、涂料、半导体等业等。


新一代紫外一可见分光光度计

      SPECORD®PLUS从常规分析到特殊应用,免费为各个应用领域提供了操作高效、便捷的全套解决方案。在化学、制药、医学、食品、坏境、材料、生命科学等诸多领域,SPECORD® PLUS都为您提供了全面的实验方法。
全息光栅单色器有效减少杂散光;
最少的机械移动部件,提供最稳定的性能、极高信噪比和优化的非球面光学系统有着优秀的成像质量;
革新的CDD技术检测器确保测定结果不受环境温度影响。


高性能全新系列总有机碳/总氮分析仪

来的德国耶拿-分析技术领军者


广泛应用:
半导体行业

半导体行业要求生产过程用水中的TOC含量低至PPB级
环境监测
符合国际、国内各类环境标准要求
电厂和蒸汽厂
满足电厂和蒸汽厂的TOC分析要求
垃圾和土壤
土壤、沉积物和垃圾样品中的TOC/TN的分析
水质监测
应用水、自来水、地表水、江河水、海水、污水等
制药和医疗
遵循USP28、欧洲药典、中国药典及其他相关国际国内标准,和清洁验证的要求


X射线光电子能谱仪
专为生产率而设计,从研究分析到日常测试

     Thermo Scientific K-Alpha是一款完全集成的X射线光电子能谱。获奖的最新版K-Alpha平台特征光谱性能显著提高,提供更高计数率和更快分析时间,改善化学探测能力。分析选配件包括一个角分辨XPS倾斜模块和一个循环惰性气体手套箱,用于转移空气敏感样品。K-Alpha带来一系列激动人心的新软件特征,旨在进一步增强用户体验。K-Alpha是专为多用户环境而设计,先进的单色X射线光电子能谱性能与智能自动化及直观控制相结合,同时满足有经验XPS分析人员及新人对此项技术的需求。


马上联系我们:021-37018108,info@boyuesh.com

              

       手持式XRF分析仪                  镀层测厚仪M1 MISTRAL

              

       镀层测厚仪M2 BLIZZARD                  光学轮廓仪

              

         原子力显微镜                    电化学工作站

             

           扫描电镜                X射线光电子能谱仪


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