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探针式轮廓仪-台阶仪

布鲁克探针式表面轮廓仪历今四十载,积累大量专有技术。从传统的二维表面粗糙度和台阶高度测量,到更高级的三维表面成像和薄膜应力测试,Dektak台阶仪适用面极广,为用户提供准确性高,重复性佳的测量结果。

在教育、科研领域和半导体制程控制,Dektak广泛用于膜厚、应力、表面粗糙度和面形的测量。近年来,在迅速成长的新能源领域(太阳能行业,LED行业),触摸屏行业,Dektak以其优异性能被多数主要的工厂采用,作为工艺控制的必要手段。

行业应用:

触摸屏、半导体、太阳能、超高亮度发光二极管(LED)、医学、材料科学、高校、研究所、微电子、金属等行业实现纳米级表面形貌测量


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