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大尺寸镀层测厚仪
PCB分析的理想解决方案

开槽台式微区XRF光谱仪 M2 BLIZZARD

M2 BLIZZARD是布鲁克公司最新推出的一款微区X射线荧光光谱仪,依据ASTMB568和DIN/ISO 3497,对材料成分和多层涂层厚度进行无损分析。采用开槽设计,非常适用于扁平形状和尺寸过大的样品,例如大型印刷电路板。该仪器采用全新的、世界领先的XSpect Pro软件进行控制。

主要特性:
开槽构型,带可伸长的“超大尺寸”样品台
可以调节槽缝间隙(10或20毫米)
设有大型、耐用的样品托盘,用于样品定位
全新优化XSpect Pro操作软件
最先进的XData软件用于应用程序,标准样品与数据库管理
可自定义设置用户界面和测试结果界面
具备波谱自动保存功能,用于测量后结果的再处理以及存档
用户设定公差,可以方便地判定“合格/不合格”
“峰值查找器”,用于定性分析未知样品
软件含有测试报告模板以供客户编辑使用
配置工业强度的脚踏开关,用于“开始/停止”测量(可选项)
可完全设置SPC软件,配合客户工艺需求(可选项)
仪器设计简洁坚固,只需一条USB电缆与PC连接

开槽台式微区XRF光谱仪 M2 BLIZZARD行业应用:

大型印刷电路板-PCB

半导体

材料科学



开槽台式微区XRF光谱仪 M2 BLIZZARD技术参数:
M2 BLIZZARD 的两种探测器选项。
可选用比例计数器(PC)或 高分辨率硅漂移探测器(SDD)
激发:微焦点,高性能,带侧窗,钨靶
高电压:50 kV,50W
探测器:大面积正比计数器,感应面积1100mm,能量分辨率<950eV(Mn-K)
选配探测器:高性能Peltier冷却XFlash硅漂移探测器,感应面积30mm2,能量分辨率<150eV,(Mn-Ka)
光斑尺寸:固定或4个自由切换,0.1到1.5mm;其他准直器:例如槽式
样品视图:高分辨率彩色摄像系统,放大倍数~30倍
样品台:手动塑料样品托盘,Z轴自动聚焦,行程:30mm
定量分析:总体分析:基于标样的经验系数法模式,无标样的FP法(基本参数法)模式;镀层分析:FP-基本参数法模式
供电:110/230 VAC,50/60 Hz,最大功率150W
尺寸(宽x深x高):1055x688x430mm

重量:75kg

马上联系我们:021-37018108info@boyuesh.com


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