您当前的所在位置为:首页  >  产品中心   >  x-ray镀层测厚仪   >  M1 MISTRAL镀层测厚仪
M1 MISTRAL镀层测厚仪
    M1 MISTRAL 是一款紧凑型的台式 μ-XRF 光谱仪,用于分析块状材料和涂层。它的操作速度快、极具成本效益, 可以提供与材料元素成分有关的准确信息。
测定镀层样品厚度及成分例如
Zn-Fe、Ag-Cu、Au-Ni-Cu、Cr-Ni-Cu、Au-Pb-Ni-Cu
珠宝及合金分析:
M1 MISTRAL是珠宝、硬币及贵金属的理想分析工具。所有珠宝合金、铂族金属及银制品、不到1分钟就可以确定其准确成分。分析结果可以用百分含量或K(开)表示
M1 MISTRAL是采用X射线荧光技术的光谱仪,可对大件样品和镀层样品进行准确的分析。分析的元素范围:原子序数22号(钛)以上的所有元素。分析的样品类型:各类不同的材料,如金属、合金、金属镀层包括多层镀层样品
样品尺寸最大可达100×100×100mm,无需任何处理,直接放在样品台上检测。
光管位于样品上方,测量过程中部接触样品,因此可以很容易地分析复杂式样的样品,如精工细作的珠宝和不容厚度的样品。

适用于各种样品类型和应用领域
用于快速现场分析的便捷式系统
没有基体或记忆效应
运行费用低,无需任何介质、处理或定期维护



珠宝分析

涂料分析

五金制品

表面处理行业

    该仪器具备高空间分辨率,光斑大小低至 100 微米。它可以分析任意形状的样品,例如最复杂的珠宝,而无需进一步的制备,更重要的是,它的分析是无损的。支持的样品尺寸最大可达 100x100x100 立方毫米。带有交叉十字线的视频显微镜,可以精确定位到您要测量的位置。电动 Z 型取样台允许快速聚焦。可选的 X-Y-Z 取样台甚至可以提供更大的舒适性。
M1 MISTRAL 配备了高亮度微焦点 X 射线管,确保出色的激发测量光斑,产生高荧光效应。凭借功能强大、易于使用的 XSpect 软件套件,该仪器可交付准确的量化结果,而不论是分析块状材料还是最复杂的多层结构。

马上联系我们:021-37018108info@boyuesh.com
  •   
  • 公司名称:*
  • 您的姓名:*
  • 您的电话:*
  • 您的手机:*
  • E-mial:*
  • *为必填项
Copyright © 2013 铂悦仪器(上海)有限公司     版权所有     郑重声明