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产品简介

                                                                               微区x射线荧光光谱分析技术是对大尺寸不规则、不均匀样品、甚至微小包裹体进行高灵敏度、非破坏性的元素分析方法。                

                                                                               1. 矩形的真空室设计，样品不需制备，可直接放入舱内检测；

                                                                               2. 优化的X射线光路，小光斑直径降到20µm范围内，且提供高的束流；

                                                                               3. 多种仪器配置：可以选择增加了X射线管或探测器；

                                                                               4. 通过使用真空模式（低噪音泵）和SLEW窗口，获得轻质元素的高灵敏度；

                                                                               5. EasyLoad功能：方便样本的装入、取出，测量同时可以通过两个影像系统查看样品被测位置，

                                                                                               自动聚焦autofocus，样品台移动和其它操作完全由鼠标控制。