您当前的所在位置为:首页  >   行业应用>   太阳能/半导体>   硅片表面形貌/晶圆测量>  

硅片表面形貌/晶圆测量

 为确保最终产品的性能,许多工业领域都需要获得产品的表面粗糙度信息。对表面粗糙度进行快速准确的测量和监控,是保障众多汽车零部件(如刹车闸和刹车片、摩擦片或密封轴)以及电子器件和半导体应用领域产品(如铅框和铜板)质量的关键。

Copyright © 2013 铂悦仪器(上海)有限公司     版权所有     郑重声明